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簡要描述：【無錫冠亞】半導(dǎo)體控溫解決方案主要產(chǎn)品包括半導(dǎo)體專?溫控設(shè)備、射流式?低溫沖擊測試機(jī)和半導(dǎo)體??藝廢?處理裝置等?設(shè)備，?泛應(yīng)?于半導(dǎo)體、LED、LCD、太陽能光伏等領(lǐng)域。-80℃射流高低溫沖擊測試機(jī) 循環(huán)風(fēng)控溫裝置
產(chǎn)品型號：LTS-202廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2025-01-16訪 問 量：1328| 品牌 | LNEYA/無錫冠亞 | 冷卻方式 | 水冷式 |
|---|---|---|---|
| 價(jià)格區(qū)間 | 10萬-50萬 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
| 儀器種類 | 一體式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,制藥/生物制藥,汽車及零部件 |
主要產(chǎn)品包括半導(dǎo)體專?溫控設(shè)備、射流式?低溫沖擊測試機(jī)和半導(dǎo)體??藝廢?處理裝置等?設(shè)備，
?泛應(yīng)?于半導(dǎo)體、LED、LCD、太陽能光伏等領(lǐng)域。
半導(dǎo)體專溫控設(shè)備
射流式?低溫沖擊測試機(jī)
半導(dǎo)體專用溫控設(shè)備chiller
Chiller氣體降溫控溫系統(tǒng)
Chiller直冷型
循環(huán)風(fēng)控溫裝置
半導(dǎo)體?低溫測試設(shè)備
電?設(shè)備?溫低溫恒溫測試?yán)錈嵩?/span>
射流式高低溫沖擊測試機(jī)
快速溫變控溫卡盤
數(shù)據(jù)中心液冷解決方案
| 型號 | FLT-002 | FLT-003 | FLT-004 | FLT-006 | FLT-008 | FLT-010 | FLT-015 |
| FLT-002W | FLT-003W | FLT-004W | FLT-006W | FLT-008W | FLT-010W | FLT-015W | |
| 溫度范圍 | 5℃～40℃ | ||||||
| 控溫精度 | ±0.1℃ | ||||||
| 流量控制 | 10～25L/min 5bar max | 15～45L/min 6bar max | 25～75L/min 6bar max | ||||
| 制冷量at10℃ | 6kw | 8kw | 10kw | 15 kw | 20kw | 25kw | 40kw |
| 內(nèi)循環(huán)液容積 | 4L | 5L | 6L | 8L | 10L | 12L | 20L |
| 膨脹罐容積 | 10L | 10L | 15L | 15L | 20L | 25L | 35L |
| 制冷劑 | R410A | ||||||
| 載冷劑 | 硅油、氟化液、乙二醇水溶液、DI等 （DI溫度需要控制10℃以上） | ||||||
| 進(jìn)出接口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 |
| 冷卻水口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 | ZG1 | ZG1 1/8 |
| 冷卻水流量at20℃ | 1.5m3/h | 2m3/h | 2.5m3/h | 4m3/h | 4.5m3/h | 5.6m3/h | 9m3/h |
| 電源380V | 3.5kW | 4kW | 5.5kW | 7kW | 9.5kW | 12kW | 16kW |
| 溫度擴(kuò)展 | 通過增加電加熱器，擴(kuò)展-25℃～80℃ | ||||||
-80℃射流高低溫沖擊測試機(jī) 循環(huán)風(fēng)控溫裝置
-80℃射流高低溫沖擊測試機(jī) 循環(huán)風(fēng)控溫裝置
射流式高低溫沖擊測試機(jī)給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供精確且快速的環(huán)境溫度。
是對產(chǎn)品電性能測試、失效分析、可靠性評估的儀器設(shè)備。
溫度控制范圍：-120℃ 至+300℃，升降溫速率?常快速，150℃?-55℃＜10秒，zui??流量：30m3/h；
實(shí)時(shí)監(jiān)控被測IC真實(shí)溫度,實(shí)現(xiàn)閉環(huán)反饋，實(shí)時(shí)調(diào)整?體溫度升降溫時(shí)間可控，程序化操作、?動操作、遠(yuǎn)程控制
冷熱循環(huán)沖擊測試機(jī)是用于測試集成電路在不同溫度下的性能和穩(wěn)定性的設(shè)備，在選購冷熱循環(huán)沖擊測試機(jī)時(shí)，需要考慮以下幾個(gè)方面：
1、測試溫度范圍：根據(jù)需要測試的集成電路的類型和規(guī)格，確定所需的測試溫度范圍。一般來說，冷熱循環(huán)沖擊測試機(jī)的溫度范圍應(yīng)該在-120℃到200℃之間，以滿足大多數(shù)半導(dǎo)體的測試需求。
2、溫度穩(wěn)定性：溫度穩(wěn)定性是測試系統(tǒng)的重要指標(biāo)之一。冷熱循環(huán)沖擊測試機(jī)的溫度穩(wěn)定性應(yīng)該足夠高，以保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。一般來說，溫度波動范圍應(yīng)該在±1℃以內(nèi)。
3、測試速度：測試速度也是需要考慮的因素之一。冷熱循環(huán)沖擊測試機(jī)的測試速度應(yīng)該足夠快，以減少測試時(shí)間和提升效率。一般來說，冷熱循環(huán)沖擊測試機(jī)測試速度應(yīng)該在每小時(shí)測試數(shù)百個(gè)樣品以上。
4、測試精度：冷熱循環(huán)沖擊測試機(jī)的測試精度應(yīng)該足夠高，以保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。一般來說，測試誤差應(yīng)該在±1℃以內(nèi)。
